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      首頁> > 產品中心 > 高溫原位納米壓痕儀

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      高溫原位納米壓痕儀
      品 牌 :KLA
      型 號 :InSEM HT
      產 地 :美國
      關鍵詞 :壓痕儀、力學測試、原位、高溫、模量

      InSEM HT(高溫)通過在真空環境中單加熱尖端和樣品來測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)或立真空室兼容。附帶的InView軟件可以協助開發新的實驗??茖W出版物表明,InSEM HT結果與傳統大型高溫試驗數據吻合。廣泛的溫度范圍使InSEM HT成為開發研究材料的非常有價值的工具。

      連續剛度測量(CSM

      CSM技術包括在壓痕過程中測量力學性能隨深度、力、時間或頻率變化的函數。該方案采用恒定應變速率試驗,測量硬度和模量作為深度或載荷的函數,是學術界和工業界常用的試驗方法。CSM還用于其他高級測試,包括用于存儲和損耗模量測量的ProbeDMA?方法和AccuFilm?基底立測量。CSM集成在控制器和InView軟件中,以保證數據質量。

      NanoBlitz3D

      NanoBlitz 3D利用Inforce 50加載器采用玻氏壓頭測量高E>3Gpa)材料的三維測量圖。NanoBlitz壓痕小于1個點/ s,多10萬個壓痕(300x300陣列),并提供每個壓痕在載荷下的楊氏模量、硬度和剛度,大量的測試提高了統計的準確性。NanoBlitz 3D還提供可視化軟件和數據處理功能。

      AccuFilm?薄膜方法包

      AccuFilm?薄膜方法包是一種基于Hay-Crawford模型的全新測試方法,使用連續剛度測量(CSM)測量基底材料的立特性。AccuFilm?修正了基底對軟基板上硬薄膜以及硬基底上軟薄膜測量的影響。

      ProbeDMA?聚合物方法包

      聚合物包可以測量聚合物的模量對頻率的函數。該測試包括平沖頭、粘彈性參考材料和評價粘彈性性能的試驗方法。這種測量技術是表征納米聚合物和聚合物薄膜的關鍵技術,而傳統的DMA測試儀器無法很好地測試這些薄膜。

      劃痕磨損試驗功能

      劃痕試驗在以規定速度穿過樣品表面時,向壓頭施加恒定或傾斜載荷。劃痕試驗可以表征許多材料系統,如薄膜、易碎陶瓷和聚合物。

      DataBurst

      DataBurst集成InView軟件和InQuest控制器系統,采用大于1kHz的速率記錄位移數據,以測量高應變跳躍載荷的突變實驗。適用于瞬間斷裂、壓爆瞬間采集大量數據的測試實驗。

      Gemini 2D多軸傳感器

      Gemini 2D 多軸技術將相同的標準壓痕功能帶到第二個橫軸上,同時沿兩個方向軸運行。該技術有助于深入了解材料特性和失效機制,可以測量泊松比、摩擦系數、劃痕、磨損、剪切等參數。

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