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      首頁> > 產品中心 > CG系列真空高低溫探針臺

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      CG系列真空高低溫探針臺
      品 牌 :Semishare
      型 號 :SCG
      產 地 :——
      關鍵詞 :SCG系列高低溫真空探針臺

          CG高低溫真空探針臺能夠實現樣品在真空高低溫環境下的精確電性、光強、波長、磁場等測試,其在超低溫,超高真空,自動控制,激光模擬方面發揮著獨有的技術優勢

      基本信息

      產品型號SCG-O-4工作環境高低溫真空環境
      電力需求AC220V,50~60HZ操控方式手動探針臺
      產品尺寸1100*1100*530mm設備重量約190KG

      應用方向

      CG高低溫真空探針臺在高低溫真空環境下的芯片測試、LD/LED/PD測試、光纖光譜特性測試、材料/器件的IV/CV特性測試、霍爾測試、電磁輸運特性、高頻特性測試等

      常見2種應用需要真空測試環境

      極低溫測試:

      晶圓在低溫大氣環境測試時,空氣中的水汽會凝結在晶圓上,會導致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內的水汽在測試前用泵抽走,并且保持整個測試過程泵的運轉。同時由于真空絕熱作用可以有效提高制冷效率。
      高溫無氧化測試:
      當晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時,氧化現象會越來越明顯,并且溫度越高氧化越嚴重。過度氧化會導致晶圓電性誤差,物理和機械形變。避免這些需要把真空腔內的氧氣在測試前用泵抽走,并且保持整個測試過程泵的運轉。
      晶圓測試過程中溫度在低溫和高溫中變換,因為熱脹冷縮現象,定位好的探針與器件電極間會有相對位移,這時需要針座的重新定位,針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動化針座來調整探針的位置。


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