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      首頁> > 產品中心 > EM-AFM 電鏡原位原子力顯微鏡

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      EM-AFM 電鏡原位原子力顯微鏡
      品 牌 :Toronto Nano Instrumentation
      型 號 :EM-AFM
      產 地 :加拿大
      關鍵詞 :AFM,原位,SEM,壓阻

          EM-AFM可在SEM中同時提供原子力顯微鏡成像和納米機械測量。它綜合了這兩種技術的優點,可高速獲得高分辨率的三維圖像,并且在微納米和亞納米尺度上實時觀察納米級力的相互作用,與常規SEM/FIB兼容,并與EDS, EBSD, WSD兼容。

         


        主要功能

      EM-AFM可在SEM中同時提供原子力顯微鏡成像和納米機械測量。它綜合了這兩種技術的優點,可進行形貌掃描、3D成像、納米壓痕/納米拉伸測試等。

      技術特點

      同時獲得AFMSEM成像

      與主流掃描電鏡完全兼容

      樣品更換簡單

      高分辨率形貌掃描

      用納米壓痕法測量納米力

      操作穩定性高,不受SEM電子束干擾

      真空載鎖兼容

        技術能力


      三、應用




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