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      首頁> > 產品中心 > MVI散射式掃描近場光學顯微鏡

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      MVI散射式掃描近場光學顯微鏡
      品 牌 :MVI
      型 號 :Vista-SNOM
      產 地 :德國
      關鍵詞 :SNOM,Vista SNOM,近場光學,SPM

          隨著近些年對于納米光子學、表面等離極化激元、二維材料以及范德華異質結構等領域的深入研究,掃描近場光學顯微鏡 (Scanning Near-field Optical Microscope, SNOM)  已成為研究這些領域的不可或缺的表征手段。雖然掃描近場光學顯微鏡在散射式模式(s-SNOM)下的空間分辨率有了很大的提升,但是在實際使用上仍然得十分繁雜。在這一背景下,美國Molecular Vista應運而生,推出了全新一代散射式掃描近場光學顯微鏡Vista-SNOM!

          有別于傳統的掃描近場光學顯微鏡,Vista-SNOM基于專用的光誘導力顯微鏡(Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術,通過檢測探針與樣品之間的偶極交互直接獲得樣品表面的場強分布,無需遠場光學探測器。這不僅杜絕了遠場信號的干擾,也無需像SNOM那樣配置多個不同波段光學探測器。光誘導力顯微鏡的檢測端可無縫適應紫外~射頻,用戶僅需考慮如何將激發光激發至樣品。


      Vista-SNOM在光誘導力顯微鏡模式下實測的場強結果與模擬結果高度吻合,同時也具備了s-SNOM模式。這使得科研人員可以將PiFM場強結果與s-SNOM場強結果進行對比分析。


      s-SNOM 散射式掃描近場光學顯微鏡案例

      下圖為金鋁二聚體分別在480nm和633nm不同偏振方向激發后的場強分布,圖a,b的實測場強與圖c,d的理論模擬是否吻合,金鋁二聚體間隔僅為5nm!

      Wavelength-dependent Optical Force Imaging of Bimetallic Al-Au Heterodimers, Nano Lett. 2018


      上面提到拉曼信號的增強主要源于局域表面等離子體共振(LSPR)的電磁場增強,下圖為基于銀顆粒陣列的表面增強拉曼襯底(SERS)的場強分布,圖f的FWHM結果顯示光誘導力顯微鏡實現了3.1nm的空間分辨。

      Fabrication and near-field visualization of a waferscale dense plasmonic nanostructured array, RSC Adv. 2018

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