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      首頁> > 產品中心 > Nano observer 電學原子力顯微鏡

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      Nano observer 電學原子力顯微鏡
      品 牌 :CSI
      型 號 :Nano observer
      產 地 :法國
      關鍵詞 :AFM,原子力顯微鏡,SPM,掃描探針顯微鏡,表面形貌,PFM,KPFM

      CSI是一家法國科學設備制造商,擁有專業的AFM設計概念,以及為現有的AFM提供設計選項。它避免了激光對準需要預先定位針尖的系統,針尖/樣品的頂部和側視圖,結合垂直的馬達控制系統,使預先趨近更加容易,通過光學視窗和X-Y樣品平移臺相結合使得樣品定位簡單,為研究型實驗室或工廠提供解決方案。



          基本技術特點

      1)控制器規格

         XY掃描范圍  100 μm(±10%,Z軸掃描范圍9μm (±10%,XY驅動分辨率24位控制-0.06?m

         數據采樣點高達4096

      2)預先配置的模式

         不需要增加額外的模塊就能實現所有需要的測量,通過簡單地選擇AFM模式,軟件驅動和連接到相應的電子設備不會產生錯誤。通過一個簡單的點擊,你可以在所有的AFM模式之間切,

      3)柔性材料電學測試ResiScope

         柔性ResiScope原理是基于間歇接觸,樣品的摩擦禮盒針尖的恒定力提供定量的測量,不損壞精細樣品的表面。

      4)高清KFM模式

         除了標準的KFM模式, Nano-Observer還能提供一種高清KFM模式,極大提高了分辨率,并提高了表面電位的測量靈敏度,

      5)Nano-Observer環境控制

         設計提供了環境控制模塊(氣體,濕度,溫度),為提高電器測量性能或者保護樣品免受氧化     


          應用

      普通樣品/生物樣品表面形貌


      多模塊配置測量(PFM/KFM/EAFM/CAFM等)

      通過ResiScopeTM模式掃描(超過10個數量級的電流,電阻)。


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