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      首頁> > 產品中心 > 光譜型橢偏儀

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      光譜型橢偏儀
      品 牌 :Horiba
      型 號 :UVISEL Plus
      產 地 :France
      關鍵詞 :橢偏儀、橢圓偏振儀

      一、 簡介

      UVISEL光譜型相調制橢圓偏振儀(SPME)是一款的儀器,它采用光彈性晶體來調制偏振光,而不是傳統橢偏技術中的機械偏光裝置。
      與傳統橢偏儀相比,UVISEL光譜型橢偏儀能夠在全譜范圍內測橢偏角(Y, D),從而可以對透明襯底、超薄薄膜和折射率接近的樣品進行特性分析。
      相調制技術的原理,使得UVISEL光譜型橢偏儀能夠進行參數測量,包括極化度、各向異性以及Mueller矩陣元素的確定。高達1毫秒/每數據點的快速數據采集速率,使得UVISEL成為動態研究和液態表面測量的可靠的解決方案。
      UVISEL是一臺多功能的光譜型橢偏儀。它覆蓋了190nm到2100nm的寬光譜范圍,而且提供了一系列的自動選件和附件來增強系統的功能、滿足您的實驗需求。模塊化的設計使得UVISEL配置靈活,可以離線、在線甚至為減小占地面積和滿足超凈間要求而集成到一個機柜中。

      二、 技術特點

      ?   光譜型相調制橢圓偏振儀

      ?   精度和靈敏度良好

      ?   寬光譜范圍:142到2100納米

      ?   模塊化設計

      ?   包含成熟的光譜型橢圓偏振儀軟件包

      ?   自動平臺樣品掃描成像、變溫臺、電化學反應池、液體池、密封池等多種附件

      三、主要應用

      測量厚度、反射率和透射率、折射率等光學常數

      ?   單層膜或多層膜疊加

      ?   單一膜層

      ?   液態膜層

      四、技術能力

      光譜波長范圍:190-2100nm

      光源:75W Xe燈

      光斑大?。簶伺?lt;3mm,小光斑50μm可選

      探測器:分別針對紫外,可見和近紅外提供優化的PMT和IGA探測器

      自動樣品臺尺寸:6/8寸多種樣品臺可選

      自動量角器:變角范圍35° - 90°,全自動調整,小步長0.01°

      五、應用

      半導體薄膜:光刻膠、工藝薄膜、介電材料

      液晶顯示:OLED、玻璃厚度、ITO

      光學鍍膜:硬涂層厚度、減反涂層

      高分子薄膜:PI、PC

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