<pre id="l5l1j"></pre>
    <del id="l5l1j"><b id="l5l1j"><thead id="l5l1j"></thead></b></del>

      <pre id="l5l1j"><del id="l5l1j"><mark id="l5l1j"></mark></del></pre>

      <pre id="l5l1j"></pre>

      <pre id="l5l1j"><del id="l5l1j"><thead id="l5l1j"></thead></del></pre>

      在線客服
      021-64283335

      首頁> > 產品中心 > NX20 高精度全自動大面積原子力顯微鏡

          1. 便攜式AFM
          2. 小樣品AFM
          3. 大樣品AFM
          4. 全自動AFM
          5. 生物型AFM
          6. 光誘導力顯微鏡IR/SNOM/TERS
          7. 掃描熱學顯微鏡
          8. 掃描微波阻抗顯微鏡
          9. AFM In-SEM
          +
          1. D系列臺階儀
          2. P系列臺階儀
          +
          1. Zeta系列光學輪廓儀
          2. 白光干涉儀
          +
          1. 單點厚度測量
          2. 微米(顯微)級光斑尺度厚度測量
          3. 自動厚度測量系統
          4. 在線厚度測量系統
          5. 橢偏儀
          6. 棱鏡耦合儀
          +
          1. 表面等離子共振顯微鏡
          2. 表面等離子共振儀
          +
        1. +
        2. +
        +
        1. +
          1. 納米拉伸儀
          +
          1. 原位TEM四自由度納米操縱樣品桿
          +
          1. 原位拉伸臺
          2. In-SEM納米操作機
          3. In-SEM納米壓痕
          +
        2. +
        +
        1. +
          1. 小型研發臺
          2. 手動探針臺
          3. 半自動探針臺
          +
          1. 示波器
          2. 矢量網絡分析儀
          3. 頻譜分析儀
          4. 功率分析儀
          5. 參數分析儀
          6. 誤碼率測試儀
          7. 相干光信號分析儀
          8. 頻率計數器
          +
          1. 探針及配件
          +
        +
          1. In-SEM原子力顯微鏡
          +
          1. In-SEM納米壓痕
          2. In-SEM 納米操作機
          +
          1. 原位芯片及Holder
          +
        1. +
        2. +
        +
        1. +
        2. +
        3. +
        4. +
        5. +
        6. +
        7. +
        8. +
        +
          1. 等離子清洗機
          2. 紫外臭氧清洗機
          +
          1. 被動隔震臺
          2. 主動隔震臺
          +
          1. 樣品切割
          2. 鑲嵌
          3. 研磨拋光
          +
          1. 工業/測量顯微鏡
          2. 視頻顯微鏡
          3. 金相顯微鏡
          4. 偏光顯微鏡
          5. 立體/體視顯微鏡
          6. USB顯微鏡
          +
          1. 干燥箱
          2. 氮氣柜
          +
        +
          1. AFM探針
          2. AFM標樣基底
          +
          1. 氮化硅薄膜窗口
          2. Quantifoil多孔載網
          3. TEM耗材
          4. SEM耗材
          5. X-ray耗材
          +
          1. GGB探針
          +
          1. 光柵模板
          2. 點陣模板
          3. 孔狀模板
          4. 納米壓印膠
          +
        1. +
        +
      NX20 高精度全自動大面積原子力顯微鏡
      品 牌 :Park
      型 號 :NX20
      產 地 :韓國
      關鍵詞 :NX20,原子力顯微鏡,AFM,SPM,掃描探針顯微鏡,表面形貌

      作為一款缺陷形貌分析的測量儀器,其主要目的是對大型樣品進行缺陷檢測。而儀器所提供的數據不能允許任何錯誤的存在。Park NX20,這款大尺寸樣品原子力顯微鏡,憑借著數據準確性,在半導體和超平樣品行業中大受贊揚,ParkNX20擁有業界便捷的設計和自動界面,讓你在使用時無需花費大量的時間和精力,也不用為此而時時不停的指導初學者。借助這一系列特點,您可以更加專注于解決更為重大的問題,并為客戶提供及時且富有洞察力的失效分析報告。

      強大全面的分析能力,Park NX20具備的功能,可快速幫助客戶找到產品失效的原因,并幫助客戶制定出更多具有創意的解決方案。與此同時,真正非接觸掃描模式讓探針尖端更鋒利、耐用,無需為頻繁更換探針而耗費大量的時間和金錢。

      產品特點

      1)Smartscan智能掃描模式,1,2,3點擊即可實現成像

      2)Pinpoint Nanomechanical力控出圖模式,更優越的力學形貌成像及各種電學測試

      3)強大的內置集成軟件系統,自帶LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve軟件模式


       技術參數

       低噪聲XYZ位置傳感器

          高速Z軸掃描器,掃描范圍15μm

          自動多樣點掃描,集成編碼器的XY自動載樣臺(編碼器可用于所有自動樣品載臺,XY馬達運動工作時分辨率為1 μm,重復率為2 μm。Z馬達運動的分辨率為0.1 μm,重復率為1 μm

          用于高級掃描模式易插拔擴展槽。

          200mm樣品臺(可選擇300mm樣品臺)

         

             選項/模式

      標準成像

      電學性能測量

      機械性能測試

      ?   真正非接觸式

      ?   接觸式

      ?   側向摩擦力顯微技術LFM

      ?   相位模式,輕敲模式

      ?   導電AFMULCAVECA

      ?   靜電力顯微鏡EFM

      ?   壓電力顯微鏡PFM

      ?   掃描電容顯微鏡SCM

      ?   掃描開爾文探針顯微鏡KPFM

      ?   掃描電阻顯微鏡SSRM

      ?   力調制顯微鏡FMM

      ?   PFM壓電力顯微鏡

      ?   力調制顯微鏡FMM

      ?   壓痕,納米刻蝕

      ?   相位成像

      磁性能

      熱性能

      ?   磁力顯微鏡MFM

      ?   掃描熱顯微鏡SThM


          應用

      用于失效分析和大型樣品研究的領先的納米計算工具,滿足各個領域的研究

      缺陷檢查成像和分析

      高分辨率電子掃描模式

      對樣品合基片進行表面粗糙度測量

      樣品側壁三維結構的測量



      国产久久亚洲精品视频18_亚洲久久久999免费_国产亚洲精品精品2020_国产亚洲综合久久系列