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      首頁> > 產品中心 > XE-7 經濟型原子力顯微鏡

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      XE-7 經濟型原子力顯微鏡
      品 牌 :Park
      型 號 :XE-7
      產 地 :韓國
      關鍵詞 :XE-7,SPM,掃描探針顯微鏡,原子力顯微鏡,AFM,表面形貌

          在同級產品中,Park XE7 能夠帶來納米級分辨率的測量效果。得益于原子力顯微鏡架構,即立的 XY 軸和 軸柔性掃描器,XE7 能夠實現平滑、正交且線性的掃描測量,從而精確成像和測量樣品的特征。此外,Park True Non-Contact? 模式可以使探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。

          Park XE7 擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具,即便是初學者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預準直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理,XE7 能夠全力推動研究生產力的提高。

          Park XE7 中所搭載的 True Non-Contact? 模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針尖端,并且它配有多功能的掃描模式,兼容性極佳,讓您可隨時升級系統功能,從而延長產品的使用壽命。

          

          特的產品特點

      1)Smartscan智能掃描模式,“1,2,3”點擊即可實現成像

      2)Pinpoint Nanomechanical力控出圖模式,更優越的力學形貌成像及各種電學測試

      3)強大的內置集成軟件系統,自LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve軟件模式

          

          技術特點

      1. XY 軸掃描器含有對稱的二維柔性和高強度壓電疊堆,可在保持平面外運動少的情況下,實現高正交運動以及納米級樣品掃描下的高響應度。緊湊且堅固的結構是為了低噪聲高速伺服回應而設計的;

      2. 軸掃描范圍可從標準的12 μm增至40μm(選購遠距離 軸掃描器)

      3. 燕尾式軌道設計,輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。

      4. 在手動 XY 軸樣品臺的控制下,樣品的測量定位變得簡單。XY 軸樣品臺的行程范圍是13 mm x 13 mm;

      5. 原子力顯微鏡的納米級信號是由高性能的 Park XE 電子控制器所控制和處理的。憑借著低噪聲設計和高速處理單元,Park XE 電子控制器成功實現了True Non-Contact? 模式,這是納米級成像和電壓電流測量的必要選擇。


          主要功能模式

          標準成像,力學測試、機械性能,化學性能、電性能,光性能(TERS)、熱性能等。


              Park XE7不同的選項適合于任何的研究,以下對石墨烯不同性能的測試:









          納米材料的光譜學研究
















          


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