<pre id="l5l1j"></pre>
    <del id="l5l1j"><b id="l5l1j"><thead id="l5l1j"></thead></b></del>

      <pre id="l5l1j"><del id="l5l1j"><mark id="l5l1j"></mark></del></pre>

      <pre id="l5l1j"></pre>

      <pre id="l5l1j"><del id="l5l1j"><thead id="l5l1j"></thead></del></pre>

      在線客服
      021-64283335

      首頁> > 產品中心 > AFM校準標樣

          1. 便攜式AFM
          2. 小樣品AFM
          3. 大樣品AFM
          4. 全自動AFM
          5. 生物型AFM
          6. 光誘導力顯微鏡IR/SNOM/TERS
          7. 掃描熱學顯微鏡
          8. 掃描微波阻抗顯微鏡
          9. AFM In-SEM
          +
          1. D系列臺階儀
          2. P系列臺階儀
          +
          1. Zeta系列光學輪廓儀
          2. 白光干涉儀
          +
          1. 單點厚度測量
          2. 微米(顯微)級光斑尺度厚度測量
          3. 自動厚度測量系統
          4. 在線厚度測量系統
          5. 橢偏儀
          6. 棱鏡耦合儀
          +
          1. 表面等離子共振顯微鏡
          2. 表面等離子共振儀
          +
        1. +
        2. +
        +
        1. +
          1. 納米拉伸儀
          +
          1. 原位TEM四自由度納米操縱樣品桿
          +
          1. 原位拉伸臺
          2. In-SEM納米操作機
          3. In-SEM納米壓痕
          +
        2. +
        +
        1. +
          1. 小型研發臺
          2. 手動探針臺
          3. 半自動探針臺
          +
          1. 示波器
          2. 矢量網絡分析儀
          3. 頻譜分析儀
          4. 功率分析儀
          5. 參數分析儀
          6. 誤碼率測試儀
          7. 相干光信號分析儀
          8. 頻率計數器
          +
          1. 探針及配件
          +
        +
          1. In-SEM原子力顯微鏡
          +
          1. In-SEM納米壓痕
          2. In-SEM 納米操作機
          +
          1. 原位芯片及Holder
          +
        1. +
        2. +
        +
        1. +
        2. +
        3. +
        4. +
        5. +
        6. +
        7. +
        8. +
        +
          1. 等離子清洗機
          2. 紫外臭氧清洗機
          +
          1. 被動隔震臺
          2. 主動隔震臺
          +
          1. 樣品切割
          2. 鑲嵌
          3. 研磨拋光
          +
          1. 工業/測量顯微鏡
          2. 視頻顯微鏡
          3. 金相顯微鏡
          4. 偏光顯微鏡
          5. 立體/體視顯微鏡
          6. USB顯微鏡
          +
          1. 干燥箱
          2. 氮氣柜
          +
        +
          1. AFM探針
          2. AFM標樣基底
          +
          1. 氮化硅薄膜窗口
          2. Quantifoil多孔載網
          3. TEM耗材
          4. SEM耗材
          5. X-ray耗材
          +
          1. GGB探針
          +
          1. 光柵模板
          2. 點陣模板
          3. 孔狀模板
          4. 納米壓印膠
          +
        1. +
        +
      AFM校準標樣
      品 牌 :復合
      型 號 :多種
      產 地 :瑞士
      關鍵詞 :AFM校準標樣



       

      型號

      規格

      TGZ系列Z向校準標樣,TGZ1/TGZ2/TGZ3/TGZ4/TGS1,Z軸校準及非線性校準

      Si 基底,結構在SiO2

      周期:3±0.1 μm,尺寸:5x5x0.5 mm,有效區域:中心:3x3 mm

      可選配:PTB可溯源證書

      TGZ1

      20.0±1.5 nmHeight

      TGZ2

      110±2 nmHeight

      TGZ3

      520±3 nmHeight

      TGZ4

      1517± 20nmHeight

      TGT1SPM針尖3-D校準標樣NT-MDT,針尖形狀,曲率半徑校準,尖端降解/污染檢測

      Si 基底

      周期:3±0.05 μm,尺寸:5x5x0.5 mm,有效區域:中心:2x2mm

      TGT1

      尖端尺寸:角度:50+-10°,半徑:<=10nm,高度:0.3-0.5μm

      TGG1SPM X,Y方向校準標樣

      SPM X、Y方向校準,掃描器橫向垂直方向非線性檢測,角度畸變檢測,針尖表征

      Si 基底

      周期:3±0.05 μm,尺寸:5x5x0.5 mm,有效區域:中心:3x3mm

      TGG1

      1-D 三角臺階標樣,精確的線性,角度

      邊緣角度70°,邊緣半徑:≤10nm

      TGX1SPM橫向校準,針尖高長徑比

      掃描器橫向檢測 橫向非線性、滯后、蠕變和交叉耦合效應的檢測 針尖長徑比標定

      Si 基底

      周期:3±0.05 μm,尺寸:5x5x0.5 mm,有效區域:中心:3x3mm

      TGX1

      棋盤狀的方柱陣列,具有鋒利的咬邊

      高度:~0.6 μm,邊緣半徑:≤10nm

      TipCheck

      SPM針尖形狀校準標樣,Budgetsensors,針尖形狀,曲率半徑校準,尖端降解/污染檢測

      尺寸:5x5x0.3 mm,有效區域:中心:5x5mm

      TipCheck

      Tipcheck金字塔納米結構

      50-100nm高度,50-100nm底部寬度

      小邊緣:≤5nm

      SHS系列臺階標樣:SHS系列臺階標樣

      Si 基底,多種結構復合:圓、長條、方形

      基底尺寸:8.0x8.2x0.5 mm

      SHS-01

      結構材質:SiO2,高度:100nm

      SHS-1

      結構材質:SiO2,高度:1000nm

      STEP-OX-0.1

      結構材質:SiO2,鍍層材質:Cr,高度:100nm

      STEP-OX-0.2

      結構材質:SiO2,鍍層材質:Cr,高度:100nm

      STEP-OX-0.5

      結構材質:SiO2,鍍層材質:Cr,高度:500nm

      STEP-OX-1

      結構材質:SiO2,鍍層材質:Cr,高度:1000nm

      STEP-Si-5

      結構材質:Si,高度:5000nm

      STEP-Si-10

      結構材質:Si,高度:10000nm

      STEP-Si-25

      結構材質:Si,高度:25000nm

      PA01

      SPM針尖形狀校準標樣,針尖形狀,曲率半徑校準,尖端降解/污染檢測

      尺寸:5x5x0.3 mm,有效區域:中心:5x5mm

      PA01

      PA 01金字塔納米結構

      50-100nm高度,50-100nm底部寬度

      小邊緣:≤5nm

      TGF11 SPM掃描器垂直方向非線性檢測

      掃描器垂直方向非線性檢測,橫向力校準,帶小球硅針尖懸臂校準

      尺寸:5x5x0.3 mm,有效區域:中心:3x3mm

      TGF11

      TGF11梯形結構,54.74°

      高度:1.75μm,周期:10±0.1 μm

      HS-MG系列標樣,HS-20MG/HS-100MG/HS-500MG,Z軸校準及非線性校準及垂直橫向掃描器校準

      Si 基底,結構在SiO2層,不同結構陣列,周期:5&10μm,尺寸:5x5 mm

      圓柱/孔:500 μm x500 μm,線條: 500 μm x500 μm,方柱/孔:1 x1mm

      HS-20MG

      20 nmHeight

      HS-100MG

      100 nmHeight

      HS-500MG

      500 nmHeight

      CS-20NG系列標樣,Z軸校準及非線性校準及垂直橫向掃描器校準

      Si 基底,結構在SiO2層,不同結構陣列,尺寸:5x5 mm

      圓柱/孔:(500nm pitch100 μm x100 μm,線條:(5 μm pitch) 500 μm x500 μm,方柱/孔:(10μm pitch)1 x1mm

      CS-20MG

      20 nmHeight

      TGXSPM橫向校準,針尖高長徑比,掃描器橫向檢測,橫向非線性、滯后、蠕變和交叉耦合效應的檢測

      Si 基底,不同結構陣列,尺寸:5x5 x0.3 mm,邊緣半徑:5nm,周期3±0.1 μm

      TGX

      1μmHeight

      TGXYZ系列標樣:SPM Z軸校準及非線性校準及垂直橫向掃描器校準

      Si 基底,結構在SiO2層,不同結構陣列,尺寸:5x5x0.3 mm

      圓柱/孔:500 μm x500 μm,線條:500 μm x500 μm,方柱/孔:1 x1mm

      TGXYZ01

      20.0±2 nmHeight

      TGXYZ02

      100±3 nmHeight

      TGXYZ03

      500±3 nmHeight

      TDG01X、Y方向校準,掃描器橫向垂直方向非線性檢測,角度畸變檢測,針尖表征

      Si 基底,鍍Al,平行脊,尺寸:12.5mm直徑,厚度:2.5mm,有效區域:9mm直徑

      TGX

      >55nmHeight

       

      其他更多基底尺寸···,歡迎電話咨詢


      国产久久亚洲精品视频18_亚洲久久久999免费_国产亚洲精品精品2020_国产亚洲综合久久系列