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      首頁 >加工測試 > 微納測試服務

      場發射掃描電子顯微鏡

      > 品牌:HITACHI
      > 可承接樣品:薄膜,纖維等
      > 簡介:高放大倍數80萬倍,可以分別手機和分離單純二次電子,混合二次電子及背散射電子的信號,在加速電壓為15kv時,高分辨率能達到1nm (視樣品而定),在1kv的低加速電壓,不適用減速功能,可以達到2.0n...

      原子力顯微鏡

      > 品牌:Park System
      > 可承接樣品:半導體硅片,刻蝕掩膜,磁介質,CD/DVD,生物材料,光學材料和其他樣品
      > 簡介:使用自動化的原子力顯微鏡和掃描隧道顯微鏡技術,可用來測量直徑可達200mm的半導體硅片,刻蝕掩膜,磁介質,CD/DVD,生物材料,光學材料和其他樣品的表面特性。

      Nano Indenter G200

      > 品牌:KLA
      > 可承接樣品:半導體器件, 薄膜 ,硬質涂層, DLC薄膜 , 復合材料, 光纖, 聚合物材料 , 金屬材料, 陶瓷材料 , 無鉛焊料 , 生物材料, 生物及仿生組織
      > 簡介:主要功能: 納米/顯微尺度的儀器化壓入和劃入,主要用于測試小塊或薄膜樣品的彈性模量和壓入硬度、薄膜臨界附著力和摩擦系數等。具有連續剛度測試模式、原位壓痕形貌掃描、剛度掃描和快速壓入測試等功能。 主要特...

      納米拉伸測試儀

      > 品牌:KLA
      > 可承接樣品:纖維和生物材料
      > 簡介:各種纖維和生物材料的動態研究, 聚合物的拉伸和壓縮性能, 纖維和生物材料的屈服強度, 大載荷: 500mN載荷分辨率: 50nN 位移分辨率: <0.1nm。

      臺階儀

      > 品牌:KLA
      > 可承接樣品:薄膜,纖維,金屬等
      > 簡介:大掃描長度≥55mm, 測試所允許的大樣品厚度≥50mm, 垂直方向的掃描范圍≥1000μm, 測試高度方向的重復性≤0.4nm(1μm的標準臺階), 測試垂直分辨率≤0.1nm。主要用于薄膜材料厚度...

      鋰電池測試

      > 品牌:SNPC
      > 可承接樣品:鋰電池,電池材料等
      > 簡介:進行電池安全性能和電學性能測試,提供高端材料分析測試,并向社會出具具有證明作用的數據和結果。 材料分析:微區形貌,成分分析,安全測試:低壓,高溫,短路,撞擊 ,擠壓,針刺,跌落,溫度循環,過充電,過放...
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