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      中科院合肥物質院強磁場中心 AFM in SEM Seminar

      2019年12月06日

          20191128-29,SHNTI聯合NenoVision在中科院合肥物質院強磁場中心舉辦了主題為“LiteScope?: In-situ AFM in SEM-correlative Probe and Electron Microscopy(CPEM) ”的技術講座,并由來自捷克的NenoVision技術專家給強磁場中心、固體物理所、合肥工大等20余位老師和學生提供了設備展示及免費測樣機會。

          

          AFM in SEM技術一種新型的表征聯用技術, LiteScope?特的探針和掃描電子顯微鏡技術(CPEM),完美地實現以下功能:表面3D表征、原位形貌及對比、材料表面粗糙度及力學分析、金屬材料元素分析、表面增強拉曼、生物細胞研究、針尖定位樣品、FIB加工及缺陷檢測等相關測試。


       
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